本セミナーでは、「in situ EBSDがとらえる組織変化のダイナミクス」をテーマに、AZtecプラットフォームを中心として最新の分析技術とその応用例をご紹介します。AZtecはEDS/EBSD共通のプラットフォームとして発売し、同時分析や両者の情報を組み合わせての解析法を開発してまいりました。このたびはEBSDと、さらに「なにか」とを組み合わせて実現する、複合的な材料評価や試験法の最新情報をご案内します。
招待講演には、材料・分析分野の第一線でご活躍中の研究者をお招きし、 現場視点での知見とともに、実務に役立つ最新技術をわかりやすく解説していただきます。
18 November 2026
1 : 00 PM (JST)
60 minutes
Language:Japanese
Businesses:Nano Analysis
開催概要
開催日：2026年11月18日（水）
セミナー 13:00 ～ 17:30（開場12:30）
意見交換会・実機見学 17:30 ～
参加費：無料
会場：オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社オフィスビル 8階会議室 及び 5階デモルーム
〒141-0001 東京都品川区北品川5-1-18 住友不動産大崎ツインビル東館
アクセスマップ
定員：40名（先着順）
※ 定員になり次第申し込み締め切りますのでお早目にお申し込みください。
お問い合わせ：オックスフォード・インストゥルメンツ株式会社
イメージングアンドアナリシス事業部
TEL: 03-6744-4702
E-mail: na-mail.jp@oxinst.com
※競合他社及び同業者からのお申込み等、当社の判断により、 セミナー参加をお断りする場合がありますので、あらかじめご了承ください。
| 時間 | タイトル | 講演者 |
| 13:00 ～ 13:05 | 開会の挨拶 |
オックスフォード・インストゥルメンツ(株) 阿江 |
| 13:05 ～ 13:25 | AZtecLive/AZtecHKL/Nanoindenter製品のご紹介 |
オックスフォード・インストゥルメンツ(株) 三井 千珠 |
| 13:25 ～ 13:45 | In-SEMナノインデンターxラマンで探る半導体材料 |
オックスフォード・インストゥルメンツ(株) 中嶌 里絵 |
| 13:45 ～ 14:05 | MapSweeperを活用したEBSD性能の進歩 |
オックスフォード・インストゥルメンツ(株) 森田 博文 |
| 14:05 ～ 14:35 | 「後日更新いたします」 |
株式会社TSLソリューションズ 鈴木 清一 様 |
| 14:35 ～ 15:00 | 休憩 | |
| 15:00 ～ 15:45 |
招待講演 「後日更新いたします」 |
株式会社原子力安全システム研究所 釜谷 昌幸 様 |
| 15:45 ～ 16:00 | 質疑応答 | |
| 16:00 ～ 16:20 | 休憩 | |
| 16:20 ～ 17:05 |
招待講演 「HR-EBSD法とSEM-DIC法を併用したミクロスケールでの力学特性評価」 |
九州大学工学研究院材料工学部門 准教授 山﨑 重人先生 |
| 17:05 ～ 17:20 | 質疑応答 | |
| 17:20 ～ 17:25 | 閉会の挨拶 |
オックスフォード・インストゥルメンツ(株) 森田 博文 |
| 17:25 ～ 17:30 | 5Fへ移動 | |
| 17:30 ～ | 意見交換会及び実機見学(希望者のみ) |
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